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产物分类BeamOn VIS-NIR 光束质量分析仪 ( 350-1310nm) 产物总览 BeamOn 是光束诊断测量系统,用于实时测量连续或脉冲激光光束,可测量激光光束参数,包括强度轮廓、光束宽度、形状、位置、功率。软件还具有报告功能,用于光束分析设置和给出结果。
更新时间:2025-01-16
产物型号:
浏览量:2020
400-1700nm 量子点短波红外相机型光束质量分析仪 量子点短波红外相机型光束质量分析仪,超高速USB 3.0,400-2000nm,采用量子点传感器,对1550nm或2000nm处进行优化,多种有效面积可供选择,z高可至1920 x 1080,15×15 μm像素点,14位A/D转换,是连续和脉冲短波红外激光光束分析的理想工具。
更新时间:2026-05-08
产物型号:
浏览量:2360
BladeCam2-HR-TEL CMOS基础型光斑分析仪相机 1480-1605nm 产物应用 连续激光的光束分析 激光和激光系统的现场测试 光学组装和仪器校准 光束漂移和记录 使用 M2DU 平台测量 M²
更新时间:2024-12-08
产物型号:
浏览量:1548
BladeCam2-HR-1310 CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1350nm 产物应用 连续激光的光束分析 激光和激光系统的现场测试 光学组装和仪器校准 光束漂移和记录 使用 M2DU 平台测量 M²
更新时间:2024-12-08
产物型号:叠濒补诲别颁补尘2-贬搁-1310
浏览量:1809
BladeCam2-HR-ND4 CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm 产物应用 连续激光的光束分析 激光和激光系统的现场测试 光学组装和仪器校准 光束漂移和记录 使用 M2DU 平台测量 M²
更新时间:2024-12-08
产物型号:BeamOn U3-E
浏览量:1747